1、GM型應在特定時(shi)間段的(de)(de)允許時(shi)間差范圍內，盡(jin)快地讀(du)取測(ce)量值。為(wei)使測(ce)量誤(wu)(wu)差不高(gao)于(yu)±5%，讀(du)取R60S的(de)(de)時(shi)間允許誤(wu)(wu)差±3S，而(er)讀(du)取15S的(de)(de)時(shi)間不應相(xiang)差±1S。

2、高壓(ya)測(ce)試電(dian)(dian)源(yuan)非理想(xiang)電(dian)(dian)壓(ya)源(yuan)，重負荷(he)（被測(ce)試品絕緣電(dian)(dian)阻(zu)值小）時，輸出電(dian)(dian)壓(ya)低(di)于其額定值，這將導致(zhi)單支路直讀測(ce)量法兆歐表(biao)測(ce)量準確(que)度(du)因(yin)轉(zhuan)換(huan)系數的改變而(er)降低(di)。這種改變因(yin)兆歐表(biao)測(ce)試電(dian)(dian)源(yuan)負荷(he)特性(xing)不同而(er)異。

3、不同動(dong)態測(ce)試(shi)(shi)(shi)容(rong)(rong)量指標的(de)(de)(de)兆歐表，試(shi)(shi)(shi)驗電(dian)(dian)壓在(zai)(zai)(zai)試(shi)(shi)(shi)品上（及采樣(yang)電(dian)(dian)阻上）的(de)(de)(de)建立過程與對試(shi)(shi)(shi)品的(de)(de)(de)充電(dian)(dian)能力均存在(zai)(zai)(zai)差異(yi)，測(ce)量結(jie)果也(ye)會不同，使用低于(yu)(yu)動(dong)態測(ce)試(shi)(shi)(shi)容(rong)(rong)量指標門限值(zhi)的(de)(de)(de)兆歐表測(ce)量時，由于(yu)(yu)儀表存在(zai)(zai)(zai)慣(guan)性網絡（包括指針式(shi)儀表的(de)(de)(de)機械慣(guan)性）導致示值(zhi)響應(ying)速(su)度較慢(man)，來不及正確反(fan)映試(shi)(shi)(shi)品實在(zai)(zai)(zai)絕緣電(dian)(dian)阻值(zhi)隨時間的(de)(de)(de)變化規律，尤其是在(zai)(zai)(zai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)起始(shi)階段，電(dian)(dian)容(rong)(rong)充電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)未*衰減為零，更會使R15S和吸收比讀(du)測(ce)值(zhi)產生(sheng)較大誤差（偏小）。

4、試(shi)(shi)品絕緣介質(zhi)極化狀況與外加試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)(dian)(dian)壓大小有關。由于(yu)試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)(dian)(dian)壓不能迅速(su)達到額定(ding)值，或因兆歐表測試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)源負荷(he)特性不同(tong)(tong)(tong)導致施加于(yu)試(shi)(shi)品上試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)(dian)(dian)壓的(de)差(cha)異，使試(shi)(shi)品初(chu)始極化狀況不同(tong)(tong)(tong)，導致吸收電(dian)(dian)(dian)流不同(tong)(tong)(tong)，使緣電(dian)(dian)(dian)阻測量的(de)示值不同(tong)(tong)(tong)。

5、國(guo)外某些兆(zhao)歐表(biao)的試(shi)驗高(gao)電壓連續可(ke)調，開機后先由零調節至(zhi)額定(ding)(ding)值(zhi)。兆(zhao)歐表(biao)讀數起始時間(jian)的不(bu)(bu)確(que)定(ding)(ding)性(xing)，以及高(gao)壓達到額定(ding)(ding)值(zhi)時間(jian)的不(bu)(bu)確(que)定(ding)(ding)性(xing)，使試(shi)品初始極(ji)化不(bu)(bu)同，也將引起示值(zhi)間(jian)的差別(bie)。

6、不同兆(zhao)歐表現(xian)場(chang)干(gan)擾的(de)(de)敏感度和抵御能力不同，對(dui)同一試(shi)品(pin)的(de)(de)讀測(ce)值會存(cun)在(zai)差(cha)異。

7、數據隨機起伏的常規測量(liang)誤差(cha)(cha)和兆歐(ou)表方法誤差(cha)(cha)不同等引起示(shi)值間(jian)的差(cha)(cha)異(yi)。

8、介質放電(dian)(dian)不充(chong)(chong)分是(shi)重復測(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)存在差(cha)異的(de)(de)重要原(yuan)(yuan)因之一(yi)。據(ju)試(shi)品(pin)充(chong)(chong)電(dian)(dian)吸收(shou)電(dian)(dian)流(liu)與(yu)其反(fan)向放電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)對應(ying)和可(ke)逆的(de)(de)特點(dian)，若需對同(tong)(tong)一(yi)試(shi)品(pin)進行第(di)(di)二次(ci)重復測(ce)(ce)量(liang)(liang)，第(di)(di)一(yi)次(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)結束后的(de)(de)試(shi)品(pin)短路(lu)放電(dian)(dian)間(jian)歇時(shi)間(jian)一(yi)般應(ying)長于(yu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)間(jian)，以放盡(jin)所積聚(ju)的(de)(de)吸收(shou)電(dian)(dian)荷量(liang)(liang)，使(shi)試(shi)品(pin)絕(jue)緣(yuan)(yuan)介質充(chong)(chong)分恢復到原(yuan)(yuan)先(xian)無極(ji)化(hua)狀態，否則將影響第(di)(di)二次(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)數(shu)據(ju)的(de)(de)準確度。為(wei)使(shi)被試(shi)品(pin)上無剩余電(dian)(dian)荷，每一(yi)次(ci)試(shi)驗前也應(ying)該將測(ce)(ce)量(liang)(liang)端對地短路(lu)放電(dian)(dian)，有時(shi)甚至(zhi)需時(shi)近1小時(shi)，并(bing)應(ying)拆除與(yu)無關設(she)備(bei)間(jian)的(de)(de)聯線(xian)。總之，同(tong)(tong)一(yi)試(shi)品(pin)不同(tong)(tong)時(shi)期的(de)(de)絕(jue)緣(yuan)(yuan)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，應(ying)采用(yong)相(xiang)同(tong)(tong)的(de)(de)試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)等級(ji)和接(jie)線(xian)方法(fa)，并(bing)盡(jin)可(ke)能使(shi)用(yong)同(tong)(tong)一(yi)型號或(huo)性(xing)能相(xiang)近的(de)(de)絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)阻(zu)表，以保證測(ce)(ce)量(liang)(liang)數(shu)據(ju)的(de)(de)可(ke)比(bi)性(xing)。

9、最(zui)后還應特別強調選用(yong)可調高(gao)(gao)壓(ya)數字兆歐(ou)表動態測(ce)(ce)量(liang)準(zhun)確度較低(di)和高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)源容量(liang)較低(di)的(de)(de)儀表，由于電(dian)(dian)容充電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)尚未(wei)*衰(shuai)減為零，以及(ji)儀表示值不能準(zhun)確地實時跟隨試(shi)品視(shi)在(zai)絕(jue)緣電(dian)(dian)阻值的(de)(de)變化(hua)，讀(du)測(ce)(ce)R15S阻值偏(pian)(pian)低(di)，出現較大誤差，導致(zhi)試(shi)品吸(xi)收(shou)比測(ce)(ce)試(shi)值虛假(jia)偏(pian)(pian)高(gao)(gao)，應引起測(ce)(ce)試(shi)人員特別重(zhong)視(shi)。這也可能是各(ge)種型號高(gao)(gao)壓(ya)兆歐(ou)表測(ce)(ce)量(liang)同一(yi)試(shi)品時吸(xi)收(shou)比讀(du)測(ce)(ce)值存在(zai)差異的(de)(de)主要原因。