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超低頻(pin)電(dian)纜介質(zhi)損耗測試儀采用最新(xin)電(dian)力電(dian)子(zi)元器件和(he)最新(xin) ARM7 單片(pian)機(ji)技(ji)術，進一(yi)步降低了設(she)備的體積和(he)重量(liang)，傻瓜式操作，性能(neng)更穩定，克服了第一(yi)代機(ji)械式升(sheng)壓器使用壽命短、故障率高、體積大(da)的缺點(dian)。

介(jie)質損(sun)(sun)耗測試CVT變(bian)頻介(jie)損(sun)(sun)測試儀是絕緣試驗中很基本(ben)的(de)(de)方法，可以有(you)效地發現電器(qi)設(she)備(bei)絕緣的(de)(de)整體受潮劣(lie)化變(bian)質，以及局部缺陷(xian)等。

變頻介質損耗測量儀(yi) 測試標(biao)準通過測量電路(lu)分別測得標(biao)準回(hui)路(lu)電流與被試回(hui)路(lu)電流幅值及其相位差(cha)，再由(you)數字信(xin)號(hao)處理器運用數字化實時采集方法，

變(bian)頻介質損(sun)耗(hao)介損(sun)測試(shi)儀能夠分別使用內(nei)高(gao)壓(ya)、外(wai)高(gao)壓(ya)、內(nei)標(biao)準、外(wai)標(biao)準、正接法、反接法、自激法等多種方式測試(shi)；在(zai)外(wai)標(biao)準外(wai)高(gao)壓(ya)情況下(xia)可(ke)以做高(gao)電(dian)壓(ya)（大于10kV）介質損(sun)耗(hao)。

全(quan)自動(dong)抗干擾介質損耗測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)JSY-05增設了外(wai)接法測(ce)試(shi),外(wai)接標準電容(rong)器、調壓器,使(shi)得測(ce)試(shi)非(fei)常簡單可靠(kao),是我廠(chang)的第(di)三代智(zhi)能化(hua)介質損耗測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)。

變頻抗干(gan)擾介質(zhi)損(sun)耗(hao)測量(liang)儀0.2級通過測量(liang)電(dian)(dian)路(lu)分別測得標(biao)準回(hui)路(lu)電(dian)(dian)流與被試(shi)回(hui)路(lu)電(dian)(dian)流幅值(zhi)及其相(xiang)位差，再(zai)由數字(zi)信號(hao)處理器(qi)運用數字(zi)化實時采集方法，通過矢量(liang)運算得出試(shi)品的電(dian)(dian)容(rong)值(zhi)和介質(zhi)損(sun)耗(hao)正(zheng)切(qie)值(zhi)。

特(te)種變頻(pin)介質損(sun)耗測試(shi)儀(yi)——招代理(li)通過測量電路(lu)(lu)分(fen)別測得標準回路(lu)(lu)電流與被試(shi)回路(lu)(lu)電流幅值及其相位差，再由數字信號處理(li)器(qi)運用數字化實(shi)時采集方法，

高、中壓介質損耗測(ce)(ce)試儀(yi)測(ce)(ce)量過程(cheng)由微(wei)(wei)處理(li)器控(kong)制，只要選擇好(hao)合適的測(ce)(ce)量方(fang)式，數據的測(ce)(ce)量就可在微(wei)(wei)處理(li)器控(kong)制下自動完成。

介質損耗(hao)特(te)性測試儀(yi):豪(hao)泰科技輸(shu)出45Hz和55Hz純正弦波，自(zi)動加壓(ya)，高10kV的電壓(ya)；自(zi)動濾除50Hz干擾，適用于變電站等(deng)電磁干擾大(da)的現場(chang)測試。

介質(zhi)損耗測(ce)試儀異頻(pin)-抗干(gan)擾-變頻(pin)式將高壓電纜插(cha)頭(tou)(tou)插(cha)入后門(men)HV插(cha)座(zuo)中，將高壓電纜接(jie)地(di)端頭(tou)(tou)接(jie)入接(jie)地(di)柱中，將另一端的紅色鱷(e)魚夾(jia)夾(jia)到(dao)被(bei)測(ce)試品的引線上，黑色夾(jia)子懸空或接(jie)屏蔽裝置。