概   述

HTJSY-B變(bian)頻介質損(sun)(sun)耗測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀是發電(dian)廠、變(bian)電(dian)站等現場或實(shi)驗室測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)各種高(gao)壓(ya)電(dian)力設(she)備介損(sun)(sun)正切值及電(dian)容量的高(gao)精度測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀器(qi)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)高(gao)壓(ya)源由儀器(qi)內部的逆(ni)變(bian)器(qi)產生，經(jing)變(bian)壓(ya)器(qi)升壓(ya)后用(yong)于(yu)被(bei)試(shi)(shi)(shi)品測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。

變頻抗干擾介質損耗測量儀0.2級測(ce)試(shi)(shi)高壓源由儀器(qi)內(nei)部的逆(ni)變(bian)器(qi)產(chan)生(sheng)，經變(bian)壓器(qi)升壓后(hou)(hou)用(yong)于被(bei)試(shi)(shi)品測(ce)試(shi)(shi)。頻率可(ke)變(bian)為(wei)50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用(yong)數字(zi)陷波(bo)技(ji)術，避開了(le)工頻電(dian)場(chang)對測(ce)試(shi)(shi)的干(gan)擾，從根(gen)本上解決了(le)強電(dian)場(chang)干(gan)擾下準確測(ce)量的難題。同時(shi)適(shi)用(yong)于全(quan)部停電(dian)后(hou)(hou)用(yong)發電(dian)機供電(dian)檢測(ce)的場(chang)合。該儀器(qi)配以絕緣油(you)(you)杯加溫控裝置可(ke)測(ce)試(shi)(shi)絕緣油(you)(you)介質損耗。

儀器(qi)主要(yao)具有(you)如(ru)下特點：

l 超大液晶中文顯示

操(cao)(cao)作(zuo)簡單，儀器配備了(le)的全觸摸(mo)液(ye)晶顯(xian)示屏(ping)，超大(da)全觸摸(mo)操(cao)(cao)作(zuo)界面，每過(guo)程都(dou)非(fei)常(chang)清晰(xi)明了(le)，操(cao)(cao)作(zuo)人員不(bu)需(xu)要額(e)外的專業培訓就能(neng)使用。輕(qing)輕(qing)點擊一(yi)下就能(neng)完(wan)成整個(ge)過(guo)程的測(ce)量(liang)，是目前(qian)理想的智能(neng)型介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)設備。

l 海量存儲數據

儀器變頻抗干擾介質損耗測量儀0.2級內部(bu)配(pei)備有(you)日(ri)歷(li)芯片和大容(rong)量(liang)存儲(chu)器(qi)，保存數(shu)據200組，能將檢測結果(guo)按(an)時間順序保存，隨時可以查看歷(li)史記(ji)錄，并可以打(da)印輸出(chu)。

l 科學*的數據(ju)管理

儀(yi)器(qi)數(shu)據可(ke)(ke)以通過U盤導(dao)出，可(ke)(ke)在任意一(yi)臺PC機(ji)上通過我公(gong)司(si)軟件，查看和管理數(shu)據。

l 多種測試模式

儀器能夠分別使用(yong)內高(gao)壓(ya)、外高(gao)壓(ya)、內標準、外標準、正接法(fa)(fa)、反接法(fa)(fa)、自激法(fa)(fa)等(deng)多種方(fang)式測試(shi)；在(zai)外標準外高(gao)壓(ya)情況(kuang)下可以做高(gao)電(dian)壓(ya)（大(da)于10kV）介(jie)質損耗(hao)。

l CVT測試一步到位(wei)

該儀器還可以測(ce)試(shi)全密封的(de)CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的(de)介損和(he)電容量(liang)，實現了C1、C2的(de)同時測(ce)試(shi)。該儀器還可以測(ce)試(shi)CVT變比(bi)和(he)電壓角(jiao)差。

l 不拆(chai)高壓引線(xian)測量CVT

儀(yi)器可在不(bu)拆除CVT高壓(ya)引線的(de)情(qing)況下(xia)正確測量CVT的(de)介質損耗值(zhi)和電容值(zhi)。

l CVT反接(jie)屏(ping)蔽(bi)法測量C0

儀器可采(cai)用反(fan)接屏蔽法(fa)測量CVT上端(duan)C0的介質損(sun)耗值和電容值。

l 高速采樣信號

儀器內部(bu)(bu)的逆變(bian)器和采(cai)樣電路全部(bu)(bu)由(you)數字化控制(zhi)，輸出電壓(ya)連(lian)續可調。

二  工作原理

測(ce)量(liang)(liang)線(xian)路(lu)由(you)取樣電(dian)阻與前置放大器和A/D轉(zhuan)換器組成(cheng)。通過測(ce)量(liang)(liang)電(dian)路(lu)分(fen)別測(ce)得標準回(hui)路(lu)電(dian)流與被試回(hui)路(lu)電(dian)流幅值(zhi)及(ji)其相位差，再由(you)數字信(xin)號處(chu)理器運用數字化(hua)實時采(cai)集方法，通過矢量(liang)(liang)運算得出試品的電(dian)容值(zhi)和介(jie)質損耗正切值(zhi)。儀器內部已經(jing)采(cai)用了抗干(gan)(gan)擾措(cuo)施，保證在(zai)外電(dian)場干(gan)(gan)擾下準確測(ce)量(liang)(liang)。

介質損耗測(ce)試儀  （體積小、重(zhong)量輕）

三   主要技術(shu)參數

1使用條件

-15℃∽40℃

RH＜80%

2

抗干擾原理

變頻法

3

電(dian)    源

AC 220V±10%

允許發電機

4

高壓輸出

0.5KV∽10KV

每隔0.1kV

精    度(du)2%

大(da)電流     200mA

容(rong)    量

2000VA

5

自激電源

AC 0V∽50V/15A

50HZ、60HZ單頻

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ

自動雙變頻

6

分 辨 率

tgδ: 0.001%

Cx: 0.001pF

7

精    度

△tgδ:±(讀數(shu)*1.0%+0.040%)

△C x :±(讀(du)數*1.0%+1.00PF)

8

測量范圍

tgδ

無限制

C x

15pF＜ Cx ＜ 300nF

10KV

Cx＜ 60  nF

5KV

Cx＜ 150 nF

1KV

Cx＜ 300 nF

CVT測試

Cx＜ 300 nF

9

CVT變比范圍

10∽10000

CVT變比精度

0.1%

CVT變比分辨率

0.01

10

外型尺寸(cun)（主機(ji)）(mm)

350（L）×270（W）×270（H）

外型尺(chi)寸(附件箱(xiang))(mm)

350（L）×270（W）×160（H）

11

存(cun)儲器大小200組 支持U盤(pan)數據存(cun)儲

三.變頻抗干擾介質損耗測試儀

在(zai)(zai)交流電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)作用(yong)(yong)(yong)下，電(dian)(dian)(dian)(dian)介質(zhi)要消(xiao)耗(hao)(hao)部(bu)分(fen)電(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)，這部(bu)分(fen)電(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)將(jiang)轉(zhuan)變為熱能(neng)產生損(sun)(sun)耗(hao)(hao)。這種(zhong)能(neng)量(liang)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)叫做(zuo)電(dian)(dian)(dian)(dian)介質(zhi)的損(sun)(sun)耗(hao)(hao)。當(dang)電(dian)(dian)(dian)(dian)介質(zhi)上施(shi)加(jia)交流電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)時，電(dian)(dian)(dian)(dian)介質(zhi)中的電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)和電(dian)(dian)(dian)(dian)流間(jian)成(cheng)(cheng)在(zai)(zai)相(xiang)角差(cha)ψ，ψ的余角δ稱(cheng)為介質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)角，δ的正(zheng)切tgδ稱(cheng)為介質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正(zheng)切。tgδ值是用(yong)(yong)(yong)來衡量(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)介質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)的參(can)數。儀(yi)器(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)路(lu)(lu)(lu)包(bao)括一標(biao)準回路(lu)(lu)(lu)（Cn）和一被試(shi)回路(lu)(lu)(lu)(Cx)，如圖(tu)2所示。標(biao)準回路(lu)(lu)(lu)由(you)(you)內(nei)置高穩定度標(biao)準電(dian)(dian)(dian)(dian)容器(qi)與測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)路(lu)(lu)(lu)組成(cheng)(cheng)，被試(shi)回路(lu)(lu)(lu)由(you)(you)被試(shi)品和測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)路(lu)(lu)(lu)組成(cheng)(cheng)。測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)路(lu)(lu)(lu)由(you)(you)取樣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻與前置放大器(qi)和A/D轉(zhuan)換器(qi)組成(cheng)(cheng)。通過(guo)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)分(fen)別測(ce)(ce)(ce)(ce)得(de)標(biao)準回路(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)流與被試(shi)回路(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)流幅值及其相(xiang)位(wei)差(cha)，再由(you)(you)數字信(xin)號(hao)處理器(qi)運(yun)用(yong)(yong)(yong)數字化(hua)實時采集方(fang)法，通過(guo)矢量(liang)運(yun)算(suan)得(de)出試(shi)品的電(dian)(dian)(dian)(dian)容值和介質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)正(zheng)切值。儀(yi)器(qi)內(nei)部(bu)已經采用(yong)(yong)(yong)了抗干(gan)(gan)擾(rao)措(cuo)施(shi)，保證在(zai)(zai)外電(dian)(dian)(dian)(dian)場干(gan)(gan)擾(rao)下準確測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)。