HTTS型可以(yi)分為電(dian)(dian)路(lu)及(ji)(ji)裝置(zhi)的(de)(de)試(shi)(shi)(shi)驗。溫(wen)升試(shi)(shi)(shi)驗是驗證設(she)(she)備(bei)在(zai)正常(chang)(chang)使(shi)用條(tiao)件下，通以(yi)額(e)定(ding)電(dian)(dian)流(liu)，各(ge)部(bu)分的(de)(de)溫(wen)升值應(ying)(ying)(ying)符合有(you)關標準的(de)(de)規定(ding)。裝在(zai)裝置(zhi)內部(bu)的(de)(de)操作手柄，其(qi)溫(wen)升允(yun)許略(lve)高(gao)些。除(chu)非另有(you)規定(ding)，對(dui)可以(yi)接(jie)(jie)觸但正常(chang)(chang)工(gong)作時(shi)(shi)不需(xu)觸及(ji)(ji)的(de)(de)外殼和覆板(ban)，允(yun)許其(qi)溫(wen)升提高(gao)10K。設(she)(she)備(bei)按正常(chang)(chang)使(shi)用情況(kuang)放(fang)置(zhi)，門、鎘(ge)板(ban)、覆板(ban)、蓋(gai)板(ban)都(dou)應(ying)(ying)(ying)裝好。試(shi)(shi)(shi)驗方案應(ying)(ying)(ying)選擇損耗(hao)(hao)最大的(de)(de)方案。進(jin)行單獨(du)電(dian)(dian)路(lu)的(de)(de)溫(wen)升試(shi)(shi)(shi)驗時(shi)(shi)，電(dian)(dian)路(lu)應(ying)(ying)(ying)通以(yi)設(she)(she)計規定(ding)的(de)(de)額(e)定(ding)工(gong)作電(dian)(dian)流(liu)。進(jin)行裝置(zhi)的(de)(de)溫(wen)升試(shi)(shi)(shi)驗時(shi)(shi)，在(zai)考慮了額(e)定(ding)分散系數后(hou)，應(ying)(ying)(ying)選擇一個(ge)或幾個(ge)有(you)代表性的(de)(de)并能獲得高(gao)溫(wen)升的(de)(de)電(dian)(dian)路(lu)，給這(zhe)些電(dian)(dian)路(lu)通以(yi)各(ge)自設(she)(she)計規定(ding)的(de)(de)額(e)定(ding)工(gong)作電(dian)(dian)流(liu)。試(shi)(shi)(shi)驗時(shi)(shi)輔(fu)助電(dian)(dian)路(lu)(包括(kuo)繼電(dian)(dian)器、接(jie)(jie)觸器、脫(tuo)扣器的(de)(de)線圈)應(ying)(ying)(ying)加上設(she)(she)計規定(ding)的(de)(de)額(e)定(ding)工(gong)作電(dian)(dian)壓(ya)。裝置(zhi)中如果包含有(you)熔斷器，試(shi)(shi)(shi)驗時(shi)(shi)應(ying)(ying)(ying)裝上適合于試(shi)(shi)(shi)驗的(de)(de)熔體(由制造廠規定(ding))。熔體的(de)(de)功率損耗(hao)(hao)、試(shi)(shi)(shi)驗中所用的(de)(de)外接(jie)(jie)導(dao)體(導(dao)線)尺寸和布置(zhi)情況(kuang)應(ying)(ying)(ying)寫入(ru)試(shi)(shi)(shi)驗報(bao)告(gao)中。

高低壓開關柜（通電）試驗臺測試部位包括：

(1)母(mu)線(xian)連接處以及其(qi)他(ta)元器件與母(mu)線(xian)的(de)連接處。

(2)抽屜式設備的母線室、功(gong)能(neng)單元室和電纜室的空間(jian)。

(3)可(ke)觸(chu)及的門、手柄和覆(fu)板。

以上三種部位均應(ying)盡量(liang)選產生溫(wen)(wen)升高點進行測(ce)量(liang)。當溫(wen)(wen)度(du)變化不(bu)超過(guo)1℃／h時，則可記錄其(qi)溫(wen)(wen)升值。其(qi)值應(ying)不(bu)超過(guo)有關標準(zhun)的規定值。裝(zhuang)置內絕緣(yuan)沒有破壞，元器件在設備內的溫(wen)(wen)度(du)條件下正常工作(zuo)，則溫(wen)(wen)升試驗合格。

豪泰科技生產的高低(di)壓開關柜通電試(shi)驗臺的介電性能試驗應根據各回路額定絕緣電壓分別進行試驗。應將那些不能耐受這種試驗電壓的電器元件(如電子設備、電容器等)從電路中拆除。 施加試驗電壓的時間和方法：出廠試驗為1s點試。型式試驗為1min，施加電壓從30%～50%的試驗電壓開始，約5s升到規定值。1min后將試驗電壓逐漸降到零。

如果設備已經過一次耐壓試(shi)驗，而需再試(shi)驗時(shi)，電壓應降到規定值的85%，試(shi)驗時(shi)間為11s。

試驗電壓施加部位：

(1)主電路(lu)帶電部(bu)件與地(框架)之間：

(2)主電路各相(xiang)之間；

(3)主電路(lu)與不同它(ta)直接連接的輔(fu)助電路(lu)之間；

(4)輔助電路與地之間；

(5)不(bu)同電壓(ya)等級的輔助電路之(zhi)間。

試驗電壓值(zhi)應符合有關(guan)標準的規定(ding)值(zhi)。

用絕緣材料做成或(huo)用絕緣材料覆蓋的(de)部(bu)件(jian)。如門，隔(ge)板、絕緣母(mu)線、手柄等，可用金(jin)屬箔包(bao)覆絕緣層在其(qi)與導電(dian)部(bu)件(jian)間施(shi)加(jia)上述(1)～(5)部(bu)位相應規定值的(de)1.5倍的(de)電(dian)壓值。試(shi)驗(yan)過程中，沒有發生絕緣擊穿，表(biao)面(mian)閃絡或(huo)電(dian)壓突然下降，則試(shi)驗(yan)合格(ge)。