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異頻、變頻抗干擾介質損耗測試儀

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2019-04-23
  • 訪  問  量:866

簡要描述:異頻、變頻抗干擾介(jie)質損耗測(ce)試儀通過(guo)該接口(kou),實(shi)現測(ce)量、數(shu)據處(chu)理(li)和報表輸出,也可(ke)實(shi)現儀器內(nei)部測(ce)量軟件(jian)升級。可(ke)集(ji)成到綜合(he)高壓(ya)試驗車上。

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產品詳情

產品概述
HTJSY-B異頻、變頻抗干擾介質損耗測試儀用于(yu)現場(chang)抗(kang)干(gan)擾介損測(ce)(ce)(ce)量(liang),或試驗室精密介損測(ce)(ce)(ce)量(liang)。儀器為(wei)一(yi)體(ti)化結構,內置(zhi)介損電橋、變(bian)頻電源、試驗變(bian)壓器和(he)標(biao)準電容器等。采(cai)用變(bian)頻抗(kang)干(gan)擾和(he)傅立葉變(bian)換(huan)數字濾波(bo)技術,全自動(dong)智能(neng)化測(ce)(ce)(ce)量(liang),強干(gan)擾下測(ce)(ce)(ce)量(liang)數據非常穩定(ding)。測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果由(you)大屏幕液晶顯示,自帶微(wei)型打印機可打印輸出。

變頻抗干擾介質損耗測試儀技術指標

準確度(du): Cx: ±(讀數(shu)×1%+1pF)

tgδ:

±(讀數×1%+0.00040)

抗(kang)干(gan)擾指標(biao):變頻抗(kang)干(gan)擾,在200%干(gan)擾下仍能達到(dao)上述準確度

電容量范(fan)圍(wei): 內施(shi)高壓(ya): 3pF~60000pF/10kV

60pF~1μF/0.5kV


外施高壓: 3pF~1.5μF/10kV

60pF~30μF/0.5kV


分辨率: 0.001pF,4位有效數字


tgδ范圍: 不限,分辨(bian)率(lv)0.001%,電容、電感、電阻(zu)三(san)種試品(pin)自(zi)動識別。

試驗電流范圍:10μA~5A

內施高壓: 設定(ding)電壓范圍:0.5~10kV

輸出電(dian)流:200mA

升降壓方式: 連續平滑調節

電壓精度: ±(1.5%×讀(du)數+10V)

電壓分辨率: 1V

試驗頻率: 45、50、55、60、65Hz單頻

5/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻

頻(pin)率(lv)精度: ±0.01Hz

外施高壓(ya): 正(zheng)接線時試驗(yan)電流1A,工頻或變頻40-70Hz

反接線時試驗電流(liu)10kV/1A,工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸(shu)出(chu)(chu)(chu):輸(shu)出(chu)(chu)(chu)電壓3~50V,輸(shu)出(chu)(chu)(chu)電流3~30A

測(ce)量(liang)時(shi)間: 約40s,與測(ce)量(liang)方式有關

輸入電源: 180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市(shi)電或發電機(ji)供電

計算機接口: 標準RS232接口

打(da)印機: 煒(wei)煌A7熱敏微(wei)型打(da)印機

環境溫度: -10℃~50℃

相對濕度(du): <90%


功能特點


變頻抗干擾

采用變頻(pin)抗干(gan)(gan)擾技術,在200%干(gan)(gan)擾下仍能準確(que)測量,測試(shi)數據穩定,適合在現場做(zuo)抗干(gan)(gan)擾介損試(shi)驗。


高精度測量

采用數字波形分(fen)析和電橋自(zi)校準等技術,配合高(gao)精(jing)度三端(duan)標準電容器(qi),實現高(gao)精(jing)度介損(sun)測量。

儀器所(suo)有量程輸入電(dian)阻低于2Ω,消除了(le)測量電(dian)纜附加電(dian)容的影響。

變頻抗干擾介質損耗測試儀多級安全保(bao)護,確保(bao)人身和設備安全

高壓(ya)保護:試品短(duan)路、擊穿或高壓(ya)電(dian)流(liu)波動,能以短(duan)路方式高速切(qie)斷輸出。

低壓保護:誤接(jie)380V、電源波動或突然斷電,啟動保護,不(bu)會引起(qi)過電壓。

接地保護(hu):儀器接地不(bu)良使外殼(ke)帶危(wei)險(xian)電(dian)壓(ya)時,啟動接地保護(hu)。

C V T:高(gao)(gao)壓電(dian)壓和(he)電(dian)流、低壓電(dian)壓和(he)電(dian)流四個保護限,不會(hui)損壞設備;誤選(xuan)菜單不會(hui)輸(shu)出激磁電(dian)壓。CVT測(ce)量時無10kV高(gao)(gao)壓輸(shu)出。

防誤操作:兩(liang)級(ji)電(dian)(dian)源開關;電(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)流實時監示(shi);多(duo)次按鍵確(que)認;接線端(duan)子高(gao)/低(di)壓(ya)分(fen)明;緩(huan)速升(sheng)壓(ya),可迅速降壓(ya),聲光(guang)報警。

防(fang)“容(rong)升(sheng)”:測量大容(rong)量試(shi)品時會出現電壓抬高(gao)的“容(rong)升(sheng)”效應,儀器能自動跟蹤(zong)輸出電壓,保持試(shi)驗電壓恒定(ding)。

抗(kang)(kang)震(zhen)性能:儀器采用*抗(kang)(kang)震(zhen)設計,可耐受強烈長(chang)途運(yun)輸(shu)震(zhen)動、顛簸(bo)而不會損壞。

高壓電纜(lan):為耐(nai)高壓絕緣導線,可拖地使用。


異頻、變頻抗干擾介質損耗測試儀功能強大(da),產品系列(lie)化

(1)具有正(zheng)/反接(jie)(jie)線,內/外(wai)標準電(dian)容,內/外(wai)高壓(ya)多種工作模式,一(yi)體化(hua)結構,可做各(ge)種常規介損(sun)試(shi)驗(yan),不(bu)需外(wai)接(jie)(jie)任何輔助設備。

(2)液晶顯示,菜單操作(zuo),測試數據豐(feng)富(fu),自(zi)動分辨電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻型試品,自(zi)帶微(wei)型打印機可打印輸出。

(3)具有外(wai)接(jie)標準電容器(qi)接(jie)口,可(ke)(ke)外(wai)接(jie)油杯做(zuo)精密(mi)絕緣(yuan)油介損試(shi)(shi)驗,可(ke)(ke)外(wai)接(jie)固體材料測量電極(ji)做(zuo)精密(mi)絕緣(yuan)材料介損試(shi)(shi)驗,也可(ke)(ke)外(wai)接(jie)高壓(ya)標準電容器(qi)做(zuo)高電壓(ya)介損試(shi)(shi)驗。

(4)自動識(shi)別(bie)50Hz

/ 60Hz系統電源(yuan),并(bing)支持發電機供電,即使(shi)頻率波動大,也可正常測量。

(5)內置串聯(lian)和并聯(lian)兩種(zhong)介損(sun)測量模型,方(fang)便儀器檢定。

(6)可存儲255組測量(liang)數據。

(7)CVT自激法測量時(shi),C1/C2可一次(ci)接(jie)線(xian)同(tong)時(shi)測出(chu),自動補(bu)償母線(xian)接(jie)地和標準(zhun)電容器的分壓影響,無須換線(xian)和外接(jie)任何(he)配件。

(8)中文圖文菜單,大屏幕背光LCD顯示更清晰,電流電壓實(shi)時監視(shi)。

(9)優化的電(dian)路設(she)計,使正/反接線的準確(que)度和(he)穩(wen)定性(xing)*。

(10)自動(dong)識別外接(jie)高壓(ya)試驗(yan)電源頻率40Hz~70Hz,支(zhi)持工頻電源、變頻電源和串聯諧振電源做大容量(liang)高電壓(ya)介損(sun)試驗(yan)。

(11)具有反接(jie)線(xian)低(di)壓屏(ping)蔽功能(neng),在(zai)220kVCVT母線(xian)接(jie)地情況下,對(dui)C11可進行不拆線(xian)10kV反接(jie)線(xian)介損測量。

(12)帶計算機接口。通過(guo)該接口,實現測量、數據處理和(he)報表(biao)輸出,也可(ke)實現儀器(qi)內部測量軟件(jian)升級。可(ke)集成到綜合高(gao)壓試驗車上。

(13)配(pei)置熱(re)敏打(da)印(yin)(yin)機,使(shi)打(da)印(yin)(yin)更加快捷、無噪音和清晰(xi)。

(14)增加回路接觸不良(liang)放電提示功能,以方便判別接線(xian)是(shi)否可(ke)靠。

(15)增(zeng)強(qiang)反接(jie)線低壓屏蔽(bi)功能,可一次接(jie)線同時(shi)測(ce)出兩個電(dian)容的電(dian)容量和介損(sun)值。

(16)增(zeng)加CVT變比(bi)功能,可測量CVT變比(bi)和相位誤差。

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