主(zhu)要(yao)技術(shu)性(xing)能(neng)

   本(ben)說明書適(shi)用(yong)HTJY系列10KV絕緣電阻測試儀

顯示方(fang)式：數(shu)字(zi)和模擬指(zhi)針(zhen)雙顯。 溫度測量：-45℃～125℃

    試驗電(dian)壓范圍(wei)：250v,0.5Kv ，1KV，2.5KV，5KV /10KV精度10%±100V

    短路電流：≧5mA   測量時間：1分鐘～10分鐘（與測量方式有關）

    充電(dian)電(dian)源：16.8v  ,

工作(zuo)環境：溫度-10～40℃，相對濕度20～80％。

操作部件功能

1.L接線端 :“L"為高(gao)壓輸出端，稱為線(xian)(xian)(xian)路端，由高(gao)壓電纜(lan)引至(zhi)被(bei)測線(xian)(xian)(xian)端，例如(ru)接至(zhi)電機繞組、電纜(lan)線(xian)(xian)(xian)芯。

2.G接線(xian)端 :“G"稱為屏蔽端，用于三電(dian)極(ji)法測量絕緣材(cai)料或電(dian)纜的體積(ji)電(dian)阻，它(ta)接至三電(dian)極(ji)的保(bao)護環端。

3.E接線端(duan) :“E"稱為地端，接(jie)至(zhi)被測(ce)物的地、零端。例如電機外(wai)殼金屬、變壓器鐵芯、電纜(lan)屏蔽層。

影響電阻(zu)或電阻(zu)率(lv)測試的(de)主要因(yin)素

 a．環境溫濕度

 一般材料的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)隨環(huan)境(jing)溫(wen)濕(shi)度(du)(du)的(de)升高而減小。相對(dui)(dui)而言，表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(率)對(dui)(dui)環(huan)境(jing)濕(shi)度(du)(du)比較(jiao)敏感(gan)，而體(ti)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(率)則對(dui)(dui)溫(wen)度(du)(du)較(jiao)為敏感(gan)。濕(shi)度(du)(du)增(zeng)加(jia)(jia)，表面泄漏(lou)增(zeng)大，體(ti)電(dian)(dian)(dian)導電(dian)(dian)(dian)流也會(hui)增(zeng)加(jia)(jia)。溫(wen)度(du)(du)升高，載(zai)流子的(de)運動速率加(jia)(jia)快，介質(zhi)(zhi)材料的(de)吸收電(dian)(dian)(dian)流和電(dian)(dian)(dian)導電(dian)(dian)(dian)流會(hui)相應增(zeng)加(jia)(jia)，據有關資(zi)料報道，一般介質(zhi)(zhi)在70C時的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)僅有20C時的(de)10％。因此(ci)，測量材料的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)時，必須指明試樣與環(huan)境(jing)達到平(ping)衡的(de)溫(wen)濕(shi)度(du)(du)。

  b．測(ce)試電(dian)(dian)壓(電(dian)(dian)場強度(du))

 介質材(cai)料(liao)(liao)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(率(lv))值一(yi)般(ban)不(bu)(bu)(bu)能(neng)在(zai)很(hen)寬的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓范圍內(nei)保(bao)(bao)持不(bu)(bu)(bu)變，即歐姆定(ding)律(lv)對此(ci)并(bing)不(bu)(bu)(bu)適用(yong)。常溫條件下，在(zai)較低(di)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓范圍內(nei)，電(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)流隨外加電(dian)(dian)(dian)(dian)壓的(de)增(zeng)加而線性增(zeng)加，材(cai)料(liao)(liao)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻值保(bao)(bao)持不(bu)(bu)(bu)變。超過一(yi)定(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓后，由(you)于離子化運動加劇，電(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)流的(de)增(zeng)加遠比測試(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓增(zeng)加的(de)快，材(cai)料(liao)(liao)呈現的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻值迅(xun)速降(jiang)低(di)。由(you)此(ci)可見(jian)，外加測試(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓越高，材(cai)料(liao)(liao)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻值越低(di)，以致(zhi)在(zai)不(bu)(bu)(bu)同電(dian)(dian)(dian)(dian)壓下測試(shi)得(de)到的(de)材(cai)料(liao)(liao)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻值可能(neng)有(you)較大(da)的(de)差別。

 值得(de)注意的(de)(de)(de)是(shi)(shi)，導致材料電(dian)阻(zu)值變(bian)化的(de)(de)(de)決定因素是(shi)(shi)測(ce)試(shi)時的(de)(de)(de)電(dian)場強度，而不是(shi)(shi)測(ce)試(shi)電(dian)壓。對(dui)相同(tong)的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)電(dian)壓，若測(ce)試(shi)電(dian)極之間(jian)的(de)(de)(de)距離不同(tong)，對(dui)材料電(dian)阻(zu)率的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)結果也(ye)將不同(tong)，正負(fu)電(dian)極之間(jian)的(de)(de)(de)距離越小(xiao)(xiao)，測(ce)試(shi)值也(ye)越小(xiao)(xiao)。

 c．測試時(shi)間(jian)

 用一定(ding)的(de)直流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)對被(bei)測(ce)(ce)(ce)材料(liao)加壓(ya)時(shi)，被(bei)測(ce)(ce)(ce)材料(liao)上(shang)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)不是瞬時(shi)達到(dao)穩(wen)定(ding)值(zhi)的(de)，而(er)是有一衰(shuai)減過程(cheng)。在(zai)加壓(ya)的(de)同(tong)時(shi)，流(liu)過較(jiao)大(da)的(de)充電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)，接(jie)著是比較(jiao)長時(shi)間(jian)緩慢減小的(de)吸(xi)收電(dian)(dian)(dian)流(liu)，最后(hou)達到(dao)比較(jiao)平(ping)穩(wen)的(de)電(dian)(dian)(dian)導電(dian)(dian)(dian)流(liu)。被(bei)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)高(gao)，達到(dao)平(ping)衡的(de)時(shi)間(jian)則越(yue)長。因此，測(ce)(ce)(ce)量時(shi)為(wei)了正確讀取被(bei)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)，應在(zai)穩(wen)定(ding)后(hou)讀取數值(zhi)或取加壓(ya)1分鐘后(hou)的(de)讀數值(zhi)。

 另外，高絕(jue)緣材料的電阻值還與(yu)其帶(dai)電的歷史有(you)關。為準確評價材料的靜(jing)(jing)電性能(neng)，在對(dui)材料進(jin)(jin)行電阻(率)測(ce)(ce)試時(shi)，應首先對(dui)其進(jin)(jin)行消電處理，并(bing)靜(jing)(jing)置一定(ding)的時(shi)間，靜(jing)(jing)置時(shi)間可取5分鐘，然(ran)后，再按(an)測(ce)(ce)量(liang)程序測(ce)(ce)試。一般(ban)而(er)言(yan)，對(dui)一種材料的測(ce)(ce)試，至少應隨(sui)機抽取3～5個試樣進(jin)(jin)行測(ce)(ce)試，以其平(ping)均(jun)值作為測(ce)(ce)試結果。

d．測試(shi)設備的(de)泄漏

 在測(ce)試中，線(xian)路中絕緣電阻不(bu)高(gao)的連(lian)線(xian)，往(wang)(wang)往(wang)(wang)會不(bu)適(shi)當地(di)與被測(ce)試樣、取樣電阻等并聯(lian)，對測(ce)量結果(guo)可(ke)能帶(dai)來較大的影響。為此(ci)：

 為減小(xiao)測量誤差，應采用保護(hu)技術，在漏電(dian)流大的(de)線路上安裝保護(hu)導體，以基本消(xiao)除(chu)雜(za)散電(dian)流對測試結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)；

 高電壓(ya)線由于表面電離，對地有一定(ding)泄漏，所以盡量(liang)采用高絕緣(yuan)、大線徑的高壓(ya)導(dao)線作(zuo)為(wei)高壓(ya)輸出線并盡量(liang)縮短連(lian)線，減(jian)少(shao)，杜絕電暈放電；

 采用聚(ju)乙烯(xi)、聚(ju)四氟乙烯(xi)等絕緣材(cai)料制作(zuo)測(ce)試臺和支撐體，以避免由于該類原因導致測(ce)試值偏低。

  e．外界干擾(rao)

  高絕緣材料加上(shang)直流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)后，通過試(shi)(shi)樣的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)是(shi)很微小(xiao)(xiao)的(de)(de)(de)，極易(yi)受到(dao)外界(jie)干(gan)(gan)擾(rao)(rao)的(de)(de)(de)影響，造成較大的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)誤差。熱電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)、接觸電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)一(yi)般(ban)很小(xiao)(xiao)，可以忽略；電(dian)(dian)(dian)(dian)解電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)主要(yao)是(shi)潮濕(shi)試(shi)(shi)樣與不同金屬接觸產生的(de)(de)(de)，大約只有(you)20mV，況且在(zai)靜電(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)試(shi)(shi)中均要(yao)求相對濕(shi)度較低，在(zai)干(gan)(gan)燥環境中測(ce)試(shi)(shi)時，可以消除電(dian)(dian)(dian)(dian)解電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)。因此，外界(jie)干(gan)(gan)擾(rao)(rao)主要(yao)是(shi)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)的(de)(de)(de)耦合或(huo)靜電(dian)(dian)(dian)(dian)感應產生的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)。在(zai)測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)小(xiao)(xiao)于10^-10A或測量(liang)電(dian)阻超過10¹¹歐姆時；被測試(shi)樣、測試(shi)電極和測試(shi)系統均(jun)應采取嚴格的(de)屏蔽措施，消除外(wai)界干擾帶(dai)來的(de)影響。

10KV電子式絕緣電阻表測試儀報價

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