一、數字電動兆歐表/10KV高壓電子兆表參數主要特點

1． 采用32位微控制器控制，全中文操作界面，操作方便。

2． 自(zi)動(dong)計算吸收比和極化指(zhi)數(shu)，自(zi)動(dong)儲存15秒、1分鐘、10分鐘的數據便于分析。

3． 輸出電流大(da)，短路電流≧5mA。抗(kang)干擾能力強，能滿足超(chao)高壓變(bian)電站(zhan)現場操作。

4． 測試(shi)完畢(bi)自動放電，并實時監控放電過(guo)程。

5． 內附可(ke)充(chong)電電池和(he)充(chong)電器，充(chong)滿電可(ke)連續使用6～12小時。

二、主要(yao)技術性能

    本說明書適(shi)用(yong)5KV

 顯(xian)示方式：數字(zi)和(he)模擬(ni)指(zhi)針雙顯(xian)。 溫度測量：-45℃～125℃

     試(shi)驗電壓范圍(wei)：250v,0.5Kv ，1KV，2.5KV，5KV /10KV精(jing)度10%±100V

     短(duan)路電流：≧5mA   測量時間：1分鐘～10分鐘（與測量方式有關）

     充電電源：16.8v  ,

 工作環境：溫度-10～40℃，相對濕度20～80％。

三、數字電動兆歐表/10KV高壓電子兆表參數操作部件功能

1.L接線端 :“L"為高壓(ya)輸出端(duan)(duan)，稱為線路(lu)端(duan)(duan)，由高壓(ya)電(dian)纜引至被測(ce)線端(duan)(duan)，例如(ru)接至電(dian)機繞組、電(dian)纜線芯。

2.G接線端 :“G"稱為屏蔽端，用于(yu)三電(dian)(dian)極法測量絕緣材料(liao)或電(dian)(dian)纜的體積電(dian)(dian)阻，它(ta)接(jie)至(zhi)三電(dian)(dian)極的保護(hu)環端。

3.E接線端(duan) :“E"稱為地(di)端(duan)，接至被測(ce)物(wu)的地(di)、零端(duan)。例如(ru)電(dian)機外(wai)殼金(jin)屬、變(bian)壓(ya)器鐵(tie)芯(xin)、電(dian)纜屏蔽層。

四、影響電(dian)阻或電(dian)阻率(lv)測試的主要(yao)因素

  a．環境溫濕(shi)度

  一般材料(liao)的電(dian)(dian)阻值隨環境(jing)(jing)溫濕度(du)(du)(du)的升高(gao)而減小(xiao)。相(xiang)對(dui)而言，表面電(dian)(dian)阻(率)對(dui)環境(jing)(jing)濕度(du)(du)(du)比較敏感，而體(ti)電(dian)(dian)阻(率)則對(dui)溫度(du)(du)(du)較為敏感。濕度(du)(du)(du)增(zeng)加(jia)，表面泄漏增(zeng)大，體(ti)電(dian)(dian)導電(dian)(dian)流(liu)也會(hui)增(zeng)加(jia)。溫度(du)(du)(du)升高(gao)，載流(liu)子的運動速率加(jia)快，介(jie)質材料(liao)的吸收電(dian)(dian)流(liu)和電(dian)(dian)導電(dian)(dian)流(liu)會(hui)相(xiang)應增(zeng)加(jia)，據(ju)有關資料(liao)報(bao)道，一般介(jie)質在70C時(shi)(shi)的電(dian)(dian)阻值僅有20C時(shi)(shi)的10％。因(yin)此，測量材料(liao)的電(dian)(dian)阻時(shi)(shi)，必(bi)須(xu)指明試(shi)樣(yang)與環境(jing)(jing)達到平(ping)衡的溫濕度(du)(du)(du)。

   b．測試電(dian)壓(ya)(電(dian)場強(qiang)度)

  介質(zhi)材(cai)料的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(率(lv))值(zhi)一般不能(neng)在很寬的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)范(fan)圍(wei)內保(bao)持不變，即歐姆定律對此并(bing)不適用。常溫條件下，在較(jiao)低(di)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)范(fan)圍(wei)內，電(dian)(dian)(dian)導電(dian)(dian)(dian)流(liu)隨外加電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)增加而線(xian)性增加，材(cai)料的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)保(bao)持不變。超過(guo)一定電(dian)(dian)(dian)壓(ya)后，由(you)于(yu)離子化(hua)運動加劇(ju)，電(dian)(dian)(dian)導電(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)(de)增加遠比測(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)增加的(de)(de)(de)快(kuai)，材(cai)料呈現的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)迅速(su)降低(di)。由(you)此可見(jian)，外加測(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)越(yue)高(gao)，材(cai)料的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)越(yue)低(di)，以致在不同電(dian)(dian)(dian)壓(ya)下測(ce)試(shi)得到的(de)(de)(de)材(cai)料電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)可能(neng)有較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)差別。

  值(zhi)得注意的(de)是，導致材(cai)料電阻(zu)值(zhi)變化的(de)決定因素是測(ce)試(shi)(shi)時的(de)電場強(qiang)度，而不(bu)(bu)是測(ce)試(shi)(shi)電壓。對相同(tong)的(de)測(ce)試(shi)(shi)電壓，若測(ce)試(shi)(shi)電極(ji)之間的(de)距離不(bu)(bu)同(tong)，對材(cai)料電阻(zu)率的(de)測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)也將不(bu)(bu)同(tong)，正(zheng)負電極(ji)之間的(de)距離越小(xiao)，測(ce)試(shi)(shi)值(zhi)也越小(xiao)。

  c．測試時(shi)間

  用一定的(de)(de)直流電(dian)(dian)壓對被測(ce)(ce)材料加(jia)壓時，被測(ce)(ce)材料上的(de)(de)電(dian)(dian)流不是瞬時達到(dao)(dao)穩(wen)定值的(de)(de)，而是有一衰減(jian)過程。在加(jia)壓的(de)(de)同時，流過較(jiao)大的(de)(de)充電(dian)(dian)電(dian)(dian)流，接著是比較(jiao)長時間(jian)緩慢減(jian)小的(de)(de)吸收電(dian)(dian)流，最后達到(dao)(dao)比較(jiao)平穩(wen)的(de)(de)電(dian)(dian)導(dao)電(dian)(dian)流。被測(ce)(ce)電(dian)(dian)阻(zu)值越高(gao)，達到(dao)(dao)平衡(heng)的(de)(de)時間(jian)則(ze)越長。因此，測(ce)(ce)量(liang)時為了正確讀(du)取(qu)被測(ce)(ce)電(dian)(dian)阻(zu)值，應在穩(wen)定后讀(du)取(qu)數(shu)值或取(qu)加(jia)壓1分鐘后的(de)(de)讀(du)數(shu)值。

  另外(wai)，高絕緣材料(liao)的電(dian)(dian)阻值還(huan)與(yu)其帶電(dian)(dian)的歷史有關。為準確評價材料(liao)的靜電(dian)(dian)性能，在對材料(liao)進(jin)行電(dian)(dian)阻(率)測試(shi)時，應(ying)首先對其進(jin)行消電(dian)(dian)處理(li)，并靜置一定的時間，靜置時間可取5分鐘，然后，再按測量程序測試(shi)。一般而言，對一種材料(liao)的測試(shi)，至少應(ying)隨機(ji)抽(chou)取3～5個試(shi)樣(yang)進(jin)行測試(shi)，以其平均值作(zuo)為測試(shi)結(jie)果。

d．測試設(she)備的泄漏

  在測(ce)試中，線路(lu)中絕(jue)緣電阻(zu)(zu)不高(gao)的連線，往(wang)往(wang)會不適當地(di)與被(bei)測(ce)試樣、取樣電阻(zu)(zu)等并聯，對測(ce)量結(jie)果(guo)可能帶來(lai)較大的影響。為(wei)此：

  為減小測(ce)量誤差，應采用保護技術(shu)，在(zai)漏電(dian)流大的(de)線路上安裝保護導體(ti)(ti)，以基本(ben)消除雜散電(dian)流對測(ce)試(shi)結果的(de)影響(xiang)；

  高(gao)電壓(ya)線(xian)(xian)(xian)由于表面電離，對(dui)地有一(yi)定泄漏(lou)，所(suo)以(yi)盡量(liang)采用高(gao)絕緣(yuan)、大(da)線(xian)(xian)(xian)徑的高(gao)壓(ya)導線(xian)(xian)(xian)作(zuo)為(wei)高(gao)壓(ya)輸出(chu)線(xian)(xian)(xian)并盡量(liang)縮短連線(xian)(xian)(xian)，減少，杜絕電暈放電；

  采(cai)用聚乙烯、聚四(si)氟乙烯等絕緣材(cai)料制作測試臺(tai)和支(zhi)撐體，以避免(mian)由于該類原因導致測試值(zhi)偏低。

   e．外界(jie)干擾

   高絕緣材料加上直流(liu)電(dian)(dian)壓后，通過試(shi)樣的(de)電(dian)(dian)流(liu)是(shi)(shi)很(hen)(hen)微小(xiao)(xiao)的(de)，極易(yi)受到外界干擾的(de)影響，造(zao)成(cheng)較(jiao)大(da)的(de)測試(shi)誤差(cha)。熱電(dian)(dian)勢(shi)(shi)、接觸(chu)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)一般(ban)很(hen)(hen)小(xiao)(xiao)，可以忽略；電(dian)(dian)解電(dian)(dian)勢(shi)(shi)主(zhu)要(yao)是(shi)(shi)潮濕試(shi)樣與不(bu)同金(jin)屬接觸(chu)產(chan)生的(de)，大(da)約只(zhi)有20mV，況且在靜電(dian)(dian)測試(shi)中均要(yao)求(qiu)相(xiang)對(dui)濕度較(jiao)低，在干燥環(huan)境中測試(shi)時，可以消除電(dian)(dian)解電(dian)(dian)勢(shi)(shi)。因此，外界干擾主(zhu)要(yao)是(shi)(shi)雜散電(dian)(dian)流(liu)的(de)耦合或靜電(dian)(dian)感應產(chan)生的(de)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)。在測試(shi)電(dian)(dian)流(liu)小(xiao)(xiao)于10^-10A或測量(liang)電阻超過10¹¹歐(ou)姆(mu)時；被測試樣、測試電(dian)極和(he)測試系統均應采取嚴格的屏蔽措施(shi)，消除外界干擾帶(dai)來(lai)的影(ying)響。

五、儀器電動(dong)兆歐表 電子兆歐表的配套性