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介(jie)損(sun)測(ce)試(shi)儀-變頻介(jie)質損(sun)耗測(ce)試(shi)可外(wai)(wai)接(jie)油杯做(zuo)精密(mi)絕緣油介(jie)損(sun)試(shi)驗，可外(wai)(wai)接(jie)固體材料測(ce)量電極(ji)做(zuo)精密(mi)絕緣材料介(jie)損(sun)試(shi)驗，也可外(wai)(wai)接(jie)高(gao)壓標(biao)準(zhun)電容器做(zuo)高(gao)電壓介(jie)損(sun)試(shi)驗。

多(duo)(duo)功能、高效(xiao)介質損耗(hao)測(ce)試儀具有(you)多(duo)(duo)種測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)，可選擇正(zheng)/反接線(xian)、內(nei)(nei)/外(wai)標準電(dian)(dian)容器、CVT測(ce)量(liang)（外(wai)接升壓器）和(he)內(nei)(nei)/外(wai)試驗電(dian)(dian)壓進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)。

介(jie)質損耗測(ce)(ce)試裝置-高壓介(jie)損測(ce)(ce)試儀利用單片機和電子技術進行自動(dong)頻率(lv)變換、模/數轉換和數據運算，達(da)到(dao)抗干擾能(neng)力強、測(ce)(ce)試速度快、精度高、操作簡(jian)便的功(gong)能(neng)。

介損(sun)-介質損(sun)耗測試儀(yi)通用(yong)指標(biao)由(you)(you)計算(suan)機(ji)實時(shi)采集標(biao)準回路電流(liu)與測試回路的(de)(de)電流(liu)幅值(zhi)及其相位(wei)差，并由(you)(you)之(zhi)算(suan)出被測試品(pin)的(de)(de)電容容值(zhi)（Cx）和其介質損(sun)耗（tg）。

110KV高(gao)壓介質(zhi)損耗測(ce)試儀(yi)系統如果(guo)(guo)使用(yong)儀(yi)器內部標準電(dian)容，則選(xuan)擇50PF,如果(guo)(guo)選(xuan)擇的外接電(dian)容與實際(ji)不相等，則測(ce)量結果(guo)(guo)會受影(ying)響。

JSY-03介質(zhi)損耗測試(shi)儀使(shi)用(yong)了光(guang)導數據、浮空地、大面積地、單點地、數字濾波等(deng)抗干擾(rao)技(ji)術，加之計算機對數百(bai)個(ge)電網周期的數據進行處理，故測量結果穩定(ding)、精確、可靠。

介(jie)質損耗測試(shi)儀10KV35KV通用使用時必須根據實際情況，將帶(dai)高壓的線纜與地保持足(zu)夠的距離,特(te)種電(dian)纜在試(shi)驗電(dian)壓低(di)于10KV時除外。

JSY-C介質損耗測試儀(yi)具備(bei)(bei)輸入電壓波動、高(gao)壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫(wen)度(du)等多重保護(hu)措施，保證了儀(yi)器(qi)安全、可靠(kao)。儀(yi)器(qi)還(huan)具備(bei)(bei)設置接地檢(jian)測功(gong)能，確保不(bu)(bu)接地設備(bei)(bei)不(bu)(bu)允許升壓。

儀器(qi)變壓器(qi)介質(zhi)損(sun)耗測試(shi)儀內部配備(bei)有日歷(li)芯片和大容量存儲器(qi)，保存數據200組(zu)，能(neng)將(jiang)檢測結果按時(shi)間(jian)順序保存，隨時(shi)可以查看歷(li)史記錄，并可以打印輸出。

HT3066介質損耗測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀產品功(gong)能 正接法 反接法 LCR全(quan)自動測(ce)(ce)(ce)試(shi) 多通道定制 絕(jue)緣電阻測(ce)(ce)(ce)試(shi) CVT自激(ji)法（C1/C2同(tong)時測(ce)(ce)(ce)量(liang)） 不拆高壓引線測(ce)(ce)(ce)試(shi)CVT CVT變(bian)比測(ce)(ce)(ce)試(shi)