產品分類
ProductsGD2000型繼電(dian)保護試(shi)驗(yan)(yan)箱制造、試(shi)驗(yan)(yan)和驗(yan)(yan)收除了應滿足本(ben)技術要求外,還應符合(he)如下標準:
GB2423.1—89 電工電子產品(pin)基本環境試驗規程試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2—89 電工電子產品基本環境試驗(yan)規程試驗(yan)B:高溫試驗(yan)方法
GB/T2423.4—93 電(dian)工電(dian)子產(chan)品基本(ben)環(huan)境試驗(yan)(yan)規(gui)程試驗(yan)(yan)Db:交變(bian)濕熱試驗(yan)(yan)方法
GB/T2423.5—95 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環境試驗規程第2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖(chong)擊(ji)
GB/T2423.10—95 電工電子產品環境試(shi)驗(yan)規(gui)程第2部分:試(shi)驗(yan)方法試(shi)驗(yan)Fc和導則:振(zhen)動(正(zheng)弦)
GB6162—85 靜態繼(ji)電器及繼(ji)電保護裝置的電氣干擾試驗
GB6592—86 電子測量(liang)儀器誤差的一般規定(ding)
GB7261—87 繼(ji)電(dian)器及繼(ji)電(dian)保護裝置(zhi)基(ji)本試驗(yan)方(fang)法
GB/T14598.3—93 電氣(qi)繼(ji)電器第5部分:電氣(qi)繼(ji)電器的絕緣試(shi)驗
GB/T14598.9—95 電氣(qi)繼(ji)電器第22部分第3篇(pian):輻射電磁場(chang)干擾試(shi)驗
DL478—92 靜態繼電保(bao)護(hu)及(ji)安全自動裝置通用技(ji)術(shu)條件(jian)
DL/T553—94 220~550kV電力系統(tong)故障動態記錄技術準則
ANSI/IEEE C37.111—1991 暫態(tai)數(shu)據(ju)式(IEEE Standard Common Format forTransient Ex-change)
DL/T 624-1997微機繼電保護裝(zhuang)置通用(yong)技術條件